第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3102 熱阻測(cè)試儀
QT-3102-XX 測(cè)試器件類型：三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極管
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支持雙DIE |
1000W熱阻 |
過(guò)載欠壓保護(hù) |
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| 型號(hào) | QT-3102 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
QT-3102-XX 測(cè)試器件類型：三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極管 R26：可以內(nèi)置到 QT-4100 的 DC 測(cè)試項(xiàng)內(nèi)實(shí)現(xiàn)大功率內(nèi)置熱阻測(cè)試 R26：通過(guò) scanbox 可以實(shí)現(xiàn) Dual Die 測(cè)試 |
| 主要特點(diǎn) |
? 最大電流、最高電壓視機(jī)型而定，最大電流分別有 20A，50A ? 最大電壓分別有 100V，200V |
Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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